I-V 曲线和 C-V 曲线之间有什么区别?

各位好，我想咨询一下I-V curve 和 C-V curve 之间在测试目的和测试方法上有什么区别？如果我已经在FTO玻璃上生长了一种半导体材料，有电化学工作站、Pt电极、Ag/AgCl 电极，那么如果想进行以上两种测试，具体该如何进行呢？PS: 我的理解是，测I-V曲线的话，直接把电化学工作站的probe分别接在FTO两端，直接测即可，是这样吗？对于C-V曲线，则需要把FTO和Pt电极分别连接到电化学工作站，再置于电解液中，然后测量？如果这个是对的，那么Ag/AgCl电极应该如何放置？并且，电解液如何选择？有什么通用的电解液吗？（找到了一篇相关文献，但是文献提供的电解液，我实验室不能配制）非常感谢您的帮助！！

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共6个回答

逾期不候，研发工程师 2018-04-21回答

1、封装。你可以在制作基片时，在fto上留点空白，若fto片子上全部长了半导体材料，就用环氧树脂将周围封装2、电解质。电解质溶液有酸性、中性和碱性，什么原则我记不清了，但是你记住，配置的电解质溶液不能刻蚀或腐蚀你的半导体材料，比如你的fto上长的是金属氧化物半导体，你不可能用酸性电解质溶液吧，一般是碱性较多，再者是中性3、这个问题有点纠结，例如fto片子，就是掺杂f的二氧化锡玻璃，具有微弱的导电性，一般是不会在绝缘基底上做的，这个主要测试的是材料的光响应能力，就是将光子转化为电子的能力

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幻墨轻尘，设备工程师 2018-04-21回答

两个测试都要用到三电极系统和电化学工作站，以及pt电极（对电极）、ag/agcl 电极（参比电极）和电解质溶液。1、i-vcurves测量时，要将fto基片封装好作为工作电极，夹住一端，（1/2到3/4）置于电解质溶液中，用lsv模式，选好测量电压区间（一般要跟标准氢电极进行换算）和扫描速率就可以测量了2、c-vcurves的测量大致跟i-v测量相近电解质溶液根据半导体材料来选择，有酸性、中性和碱性三种，可自己配置

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梓七柠九，化工工艺设计师 2018-04-21回答

我们使用的参比电极也是买的，但是首先你要了解，氯化银电极http:///cpzs--canbidjpic/cbdj03.jpg，ag/agcl一般是浸在不饱和氯化钾溶液中的（透明玻璃管中溶液），使用时将里面的溶液换成饱和氯化钾溶液就 ... 看到您的回复很专业啊。。菜鸟问一个问题：请问为什么电极一定要悬空呢，

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久仰幸会，水处理工程师 2018-04-21回答

我们使用的参比电极也是买的，但是首先你要了解，氯化银电极http:///cpzs--canbidjpic/cbdj03.jpg，ag/agcl一般是浸在不饱和氯化钾溶液中的（透明玻璃管中溶液），使用时将里面的溶液换成饱和氯化钾溶液就行。对于电解质溶液，可以用烧杯，也可以按你们的要求定作一个聚四氟乙烯做的电极池，这个没多大要求，测量时，三电极放在里面，但是记着要悬空，不要碰着底部就行

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黏人，化工工艺工程师 2018-04-21回答

1、很高兴看到了这篇帖子，我之前也在导电玻璃膜上修饰材料，但是在做电化学测试的时候，容易脱落，请问楼主，你们用怎样的粘合剂来防止脱落？？2、在做电化学测试的时候，一般都用的是三电极体系即可。3、电解液可以选择，0.1m氢氧化钠，或者pbs溶液。

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山外有海漾，设备工程师 2018-04-21回答

1、制作的时候留点空白是可以的，我现在就这么做，这样做出来的基片只要木有大的缺陷，基本都不用封装的。2、封装的话，是在正面封装，反面的物质是要去除的；封装：a、可以防止正面有缺陷而导致的漏电，b、可以通过封装在基片的一端引入金属垫片增加导电率3、电解质溶液这个不太好说，一般是参考文献里面的来做的

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I-V 曲线 和 C-V 曲线 之间有什么区别?

I-V 曲线和 C-V 曲线之间有什么区别?