那么问题来了,高度的表征与制样方法、采样数目、采样的随机性有很大关系,但是如果一个石墨烯材料不像氧化石墨烯或者cvd石墨烯一样单纯,而是由不同层数,不同形貌,甚至不同石墨化程度的石墨烯片组成,看高度来确 ...
帖子看到这里,发表一下愚见。关于高度的测量,按照楼主的观点,对于测量的随机性结果是否可以按这个2nm高度出现的概率来排除。例如,随机取样10个,随机送样,随机测量,如果这种结情况下得到的数据结果超过一个比例(比如80%结果小于2nm),那是否可以认为这批样品宏观上已经可以认定为石墨烯了?(就像工业生产的纳米粉,现目前的产业化工艺还不能保证100%的颗粒都在100nm以下,但是我们有个尺度,比如D80或者D90都小于100nm,那我们就认为这款材料可以认为是纳米粉了。您觉得呢?