采用什么表征手段测含硼ZSM-5中的Si/B或Si和B的含量比较精确?

如题，本人正在做含硼ZSM-5，想问一下各位高人采用什么表征手段测含硼ZSM-5中的Si/B或Si和B的含量比较精确？既需要测整体的Si/B，又需要测表面的Si/B。采用ICP和XPS的准确度高吗？

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共5个回答

icp需要溶样，所以检测的是整体的信息，而且准确度很高，再有xrf可以检测整体信息，只有标准曲线做的好，精确度也很高。表面信息我记电子探针分析epma可以。xps没接触过，不太了解。

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整体准确肯定是icp，表面相对准确是xps，你都想兼顾的话有点困难不是想兼顾，就是分别测整体的和表面的，就是没测过，不知道用这两种手段可不可靠

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icp需要溶样，所以检测的是整体的信息，而且准确度很高，再有xrf可以检测整体信息，只有标准曲线做的好，精确度也很高。表面信息我记电子探针分析epma可以。xps没接触过，不太了解。谢谢您的答复

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测个元素分析或者icp，xps可以不测

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icp需要溶样，所以检测的是整体的信息，而且准确度很高，再有xrf可以检测整体信息，只有标准曲线做的好，精确度也很高。表面信息我记电子探针分析epma可以。xps没接触过，不太了解。对了icp比较麻烦，需要溶样，xrf很简单，研磨压片就好，

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