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关于d带中心,价带谱?

请问一下各位大佬,这种图是怎么画出来的,我看有相关帖子讲先画出d带的PDOS,再加权平均,PDOS这一步数据具体是怎么得来的呢,价带谱得出来的数据再处理的嘛




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共5个回答
这个文章我为什么打不开耶?

方法一:vaspkit工具直接用就行,里面会有分p轨道,d轨道。
方法二:找到计算材料,看看那些有d轨道,对应元素细分p轨道,d轨道,其中d轨道求和就是你要的。
方法三:p4vasp软件,具体名字我不大记得了,把dos计算输出文本vaspsum,名字也不大记得了很长的一个v开头,导入该软件,里面会有分pd等轨道。
方法四:materials Studio 软件计算勾选相关参数设置,然后读取结果时,选择需要输出方式即可。

方法一:vaspkit工具直接用就行,里面会有分p轨道,d轨道。
方法二:找到计算材料,看看那些有d轨道,对应元素细分p轨道,d轨道,其中d轨道求和就是你要的。
方法三:p4vasp软件,具体名字我不大记得了,把dos计算输 ...
我看到的这篇文章没有提到DFT计算的问题,好像是通过测试XPS得出来的,不知道是不是我的理解有误,我想问一下能否不通过DFT计算出d带中心呢,文章是这个,https://dx.doi.org/10.1021/acscatal.9b04313




D带中心理论用于量化电子得失数量,还是很强力的一个测试手段。但是单独看df轨道元素电荷得失,总感觉有失偏颇,不透彻。前一段时间我看到有一个文章,用整个体系元素价态变化来说明得失电子,活性位点,非常清晰,受益匪浅。

我看到的这篇文章没有提到DFT计算的问题,好像是通过测试XPS得出来的,不知道是不是我的理解有误,我想问一下能否不通过DFT计算出d带中心呢,文章是这个,https://dx.doi.org/10.1021/acscatal.9b04313

...
这个描述还是很清楚的,你从定义上去理解。实验和计算都是一种测试,我认为实验理论也是可以的。xps在说明价态时,感觉少了些味道,需要其他测试结合证明。

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