薄膜的厚度是影响其性能的关键因素之一。例如，薄膜的拉伸强度、透光性、气体透过性等性能都与其厚度紧密相关。因此，精确测量薄膜的厚度对于确保其性能符合特定应用要求至关重要。
广泛应用于各种工业生产领域的设备，尤其在材料科学、电子学和生物学等领域中发挥着重要的作用。它主要用于精确测量各种薄膜材料的厚度，从微米级别到纳米级别，甚至更小。在本文中，我们将重点介绍一种基于机械接触式检测原理的薄膜测厚仪。
机械接触式薄膜测厚仪主要通过测量探针与薄膜表面之间的距离来计算薄膜的厚度。这种设备通常由位移传感器和数据处理系统组成。在测量过程中，探针与薄膜表面接触，压在薄膜上，从而产生一定的压力。当探针向下压到一定的位置时，位移传感器会记录下探针的位移量。然后，通过数据处理系统将位移量转化为薄膜的厚度值。
