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用什么表征手段能说明金属纳米粒子进入到介孔分子筛的介孔孔道内?

如题,用什么表征手段能说明金属纳米粒子进入到介孔分子筛的介孔孔道内 请大神指教
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共7个回答
靠谱的办法就是TEM了。
TEM和XPS技术结合,如果你确定纳米颗粒进入到分子筛中,那么XPS分析的表面元素含量中纳米颗粒的元素含量是偏低的,然后结合TEM和HRTEM看形貌辅助,做个ICP,看一下体相的各个元素含量,这样可以多方位的知道是否纳米颗粒进入了分子筛孔道。
要是太较真,那可麻烦了,比如TEM的tomography可以。。
要是太较真,那可麻烦了,比如TEM的tomography可以。。 这个是不死很复杂?具体是怎么实现的,
XPS溅射,测定不同深度金属含量
高分辨电镜,HRTEM就可以!
这个是不死很复杂?具体是怎么实现的... 有点,其实就是TEM的三维重构技术。
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