怎么证明测出来的薄膜材料是半导体材料？

我的霍尔效应仪工作温度为室温和液氮环境，想测变温，有什么办法，可以直接加热样品？
我的目的是测出变温电导率曲线，证明制备出来的薄膜样品是半导体，还有其他方法？