请教群里的高手赐教：
本人SEM-EDS(日本电子JEOL-IT100)初学者，最近需要使用SEM分析6061铝合金试样（试样分析面已经抛光处理）时效后的显微组织：
1）硅化镁的数量；
2）弥散体如锰、铬化合物的密度；
3）铁化物的形状；
请问进行以上这几项分析时电镜的加速电压、WD工作距离、一般使用的放大倍数、以及使用哪一种探头比较合适？
上周遇到的情况：SEM图像调节一开始使用SE二次电子探头在放大到5000倍时，聚焦和调整像散后都不能获得比较清晰的图像，当切换到背散射时
无法获得清晰的SEM组分图和形貌图，请问一下这是什么原因？
恳请群里的高手指点一下，小弟感激不尽！
