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请教二氧化硅包覆后复合材料XRD的问题?

使用气相沉积的方法(1000℃),将材料包覆于二氧化硅气凝胶颗粒。

未包覆之前的XRD图谱可以理解为二氧化硅为无定型状态,但是峰位与二氧化硅的PDF标准卡片对应不上。可能是个区间,由于初学,不是很确定。

包覆之后的XRD图谱出现了尖锐峰,出现的问题还是峰位与PDF标准卡片对应不上。

可能是二氧化硅结晶吗?但是文献里1200℃以下的二氧化硅的XRD都没结晶现象,即没尖锐峰。是不是我包覆的材料结晶了?但是峰位匹配不上。

求大神帮忙分析下原因,新虫,金币不是很多,麻烦了。小弟感激不尽。

备注:红色为未包覆。
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会不会存在二氧化硅晶型变化的情况

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