各位大神，在SiO2/Si衬底上长的MoS2薄膜，想做TEM分析，请问买哪种铜网比较好？

多层转移到铜网上可以，http://iopscience.iop.org/article/10.1088/2053-1583/aaf3e9这篇文献有讲到，不过多层是通过两步法制备的。
单层的话在铜网上好像容易团聚，https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/1405/1405.0129.pdf 这篇文献用的Si3N4 TEM Grid

薄膜应该用环，Cu环；颗粒状才用网
有没有具体型号推荐

有谁做过纳米孔检测方面的呀？

薄膜应该用环，Cu环；颗粒状才用网

薄膜比较大，用微栅比较好，中镜科仪的就不错

你的目的是什么？用TEM看形貌，还是想打衍射图，或者HRTEM看晶格？如果只是看薄膜的形貌，做SEM要简单方便的多。要是看晶格和衍射情况，才需要做TEM。做TEM的话，我以前就用普通的带有碳膜的铜网刮擦样品，最后的结果也不错。做TEM，宏观上极其微量的膜，在显微镜下都是足够的。